Expertos analizarán el futuro del banano en un congreso mundial en Miami

San José, 17 may (EFE).- Expertos de Argentina, Brasil, Estados Unidos, Francia, México y Panamá analizarán el futuro del banano a nivel mundial durante el VII Congreso Internacional sobre Banano, que se efectuará del 26 al 29 de septiembre en Miami (EE.UU.), informaron hoy los organizadores.

La reunión, organizada por la Corporación Bananera Nacional de Costa Rica (Corbana), contará con más de 600 participantes que escucharán los análisis de más de 30 expertos con el objetivo de promover un espacio de intercambio de conocimientos y de actualización sobre las tendencias de esta industria.

“Se articularon esfuerzos para desarrollar un evento que facilite la concentración de conocimiento científico y su divulgación, para tal efecto la organización del congreso estructuró una agenda que involucra presentaciones magistrales, conferencias cortas, debates y mesas redondas”, afirmó en un comunicado el gerente general de Corbana, Jorge Sauma.

En la actividad se analizarán los retos del sector, entre ellos el combate del hongo “Fusarium Raza 4 Tropical”, también conocido como “Mal de Panamá”, una plaga que causa decoloración y marchitamiento, provocando la destrucción de plantaciones.

Los expertos también ampliarán sobre los más recientes hallazgos en materia de investigación, análisis de mercados, la logística y transporte de la fruta.

Entre los invitados especiales destacan, el investigador de plantas internacionales de la holandesa Universidad de Wageningen, Gert Kema; los funcionarios de la Empresa Brasileña de Investigación Agropecuaria (Embrapa), Miguel Dita y Edson Perito; el experto del Centro de Cooperación Internacional en Investigación Agronómica para el Desarrollo (CIRAD) francés, Luc de Lapeyre, entre otros.

Los organizadores buscan que el abordaje de las temáticas a discutir promuevan un intercambio de conocimientos, ideas y opiniones que brinden herramientas necesarias para un mayor fortalecimiento de las empresas y sus productos. EFE

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